什么是晶圆测钨铼试探针？
晶圆测钨铼试探针是一种用于半导体晶圆测试的探针，它是由钨铼合金材料制成的，具有高强度、高硬度和良好的耐腐蚀性等优点。
在晶圆测试中，钨铼试探针被用来接触晶圆上的集成电路器件，以测试其电气特性和性能。测试时，探针与晶圆上的接点接触，通过测量电流、电压等参数来评估集成电路的性能。不合格的晶粒会被标上记号，并在后续的制程中被淘汰，以避免徒增制造成本。
晶圆测试钨铼试探针的制造需要经过精密的机械加工和表面处理，以确保其具有高精度和高可靠性。在使用过程中，探针需要保持清洁和稳定，以避免对测试结果产生不良影响。晶圆测试钨铼试探针是一种重要的半导体测试工具，它能够精确地测试晶圆上集成电路的性能和可靠性，对于保证半导体制造的质量和效率具有至关重要的作用。
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