检测钼坩埚的纯度对于确保其在高温熔炼、单晶生长、化学实验等高要求环境中的性能至关重要。纯度高的钼坩埚具有更优的耐高温性、化学稳定性和使用寿命。以下是几种常见且有效的钼纯度检测方法：
一、常用的钼坩埚纯度检测方法
| 方法 | 原理 | 可检测项目 | 特点 |
| 电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES） | 高温等离子体激发样品元素发射光谱 | 杂质金属元素（Fe, Ni, Cu 等） | 多元素同时检测，灵敏度高 |
| 辉光放电质谱（GDMS） | 在真空中辉光放电将样品溅射为离子后质谱分析 | 几十种痕量杂质 | 精度高，可达ppb级 |
| 火花发射光谱（Spark-OES） | 高能火花激发金属表面产生发射谱 | 常规金属杂质 | 快速、适合工业批量检测 |
| X射线荧光光谱（XRF） | X射线激发元素发射特征X光谱 | 表面杂质元素含量 | 快捷、无损，可现场检测 |
| 原子吸收光谱（AAS） | 检测元素对特定波长的吸收程度 | 特定杂质（如铅、铁） | 灵敏、针对性强 |
| 氧氮氢分析仪（ONH） | 高温还原条件下分解出O/N/H后检测其含量 | 氧、氮、氢等气体杂质 | 对气体纯度要求高的钼尤为关键 |
二、检测样品的准备方式
机械取样：将坩埚表面/内壁部分刮取粉末或切割小片；
化学溶解样品：用于ICP、AAS分析时须用酸（如混酸王水）将样品消解；
直接分析整块样品：用于XRF或GDMS可直接检测实物或表面。
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