钨片的电阻率测量通常采用 四探针法 或 标准直流电阻法，具体步骤如下：
样品制备：切割出尺寸适合的钨片试样，确保表面平整、无氧化层或污染。薄片可直接用于四探针测试，厚板则可制作成标准导电试棒。
四探针法：在钨片表面均匀放置四个探针，外侧两个探针施加电流，内侧两个探针测量电压，通过欧姆定律计算电阻。优点是 消除了接触电阻的影响，适合高精度测量薄片电阻率。
标准直流电阻法：将钨片制成导电试棒，测量长度和横截面积，施加已知电流并测量电压，利用公式 ρ=R⋅A/L 计算电阻率（ρ为电阻率，R为测量电阻，A为横截面积，L为长度）。
注意事项：钨易氧化，测量前应清洁表面；高精度测量可在 真空或惰性气体环境 下进行，避免表面氧化影响结果；测量时温度会显著影响电阻率，应记录或控制环境温度。
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