什么是晶片钨探针卡？
晶片钨探针卡是一种用于半导体晶圆测试的专用设备，它由测试电路板和钨探针组成，主要用于对晶圆进行电性能测试。
晶片钨探针卡的设计原理是，将钨探针的针头直接接触被测晶圆的衬垫，通过测试电路板将测试信号传输到钨探针上，从而实现对晶圆的电性能测试。
晶片钨探针卡的应用领域包括半导体制造中的晶圆测试环节，通过使用晶片钨探针卡进行测试，可以获得准确的测试数据和可靠的测试结果，为半导体制造的质量控制和优化提供重要的技术支持。在使用晶片钨探针卡进行晶圆测试时，需要注意正确安装、小心操作、定期检查、清洁维护和安全防护等方面的事项。
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