晶圆钨探针卡在芯片测试中起到什么作用？
在芯片测试中，晶圆钨探针卡起到重要作用。它是一种高精度、高可靠性的测试工具，主要应用在IC尚未封装前，通过将探针卡上的探针与芯片上的焊垫或凸块进行接触，从而接收芯片讯号，筛选出不良产品。具体来说，晶圆钨探针卡在芯片测试中的作用包括：
- 连接测试仪器：晶圆钨探针卡作为测试机台的“手”，通过接口与测试仪器相连，实现测试信号的传输和控制。
- 模拟芯片工作状态：通过探针卡上的探针与芯片上的焊垫或凸块进行接触，可以模拟芯片在实际工作状态下的信号传输和响应，从而检测芯片的功能和性能。
- 检测芯片缺陷：晶圆钨探针卡可以检测芯片制造过程中的缺陷和问题，如焊垫缺陷、凸块不良等，帮助及时发现和解决问题，提高芯片良品率。
- 控制测试过程：通过晶圆钨探针卡上的控制系统和自诊断功能，可以实现对测试过程的精确控制和故障预警，提高测试效率和准确性。
总之，晶圆钨探针卡在芯片测试中起到连接测试仪器、模拟芯片工作状态、检测芯片缺陷和控制测试过程等重要作用，是保证芯片质量和性能的关键环节。
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