钨片表面粗糙度的测量通常采用 接触式轮廓仪 或 非接触式光学测量方法，具体方法如下：
接触式轮廓仪：通过一个微小的探针在钨片表面滑动，记录探针的上下振动来描绘表面轮廓，从而计算粗糙度参数（如Ra、Rz等）。适合各种厚度的钨片，但探针压力和尺寸需合理选择，避免损伤高硬度表面。
激光扫描或光学干涉法：利用激光或白光干涉扫描钨片表面，获取三维表面轮廓，可快速测量微米或纳米级粗糙度，适合薄片或高精密应用。
原子力显微镜（AFM）：用于超高精度表面测量，可分析纳米级粗糙度和局部微结构，常用于科研或精密电子应用的钨片。
注意事项：测量前应 清洁表面，去除灰尘、氧化层或残留加工液；薄片钨片需固定稳固，避免振动影响测量；选择测量方法时应根据所需精度和钨片厚度决定。
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